腭皺對全口義齒修復后輔音聲學特征的影響

                     作者：崔磊 孫桂蘭 楊學財 張艷

【摘要】  目的 研究腭皺在全口義齒修復后語音恢復過程中的作用。方法 應用Minispeech lab測量40例全牙列缺失病人在全口義齒初戴前、初戴時及初戴后1、2、4、8周時/j/、/q/、/x/的第二共振峰(F2)值和帶寬（B2）值。結果 無腭皺組從初戴后2周開始，/j/、/q/、/x/的F2值與之前相比明顯升高（F=4.32～6.29，q=2.95～4.48,P<0.05），/q/、/x/的B2值與之前相比明顯降低（F=5.64、5.58，q=3.90～4.68，P<0.05），從初戴后4周開始，/j/的B2值與之前相比明顯降低（F=5.28，q=3.18～4.95，P<0.05）。腭皺組從初戴后1周開始，/j/、/q/、/x/的F2值與之前相比明顯升高（F=5.03～5.82，q=2.97～3.80，P<0.05），其B2值與之前相比明顯降低（F=4.43～4.99，q=3.31～4.03，P<0.05）。結論 腭皺有利于全口義齒修復后病人語音的恢復。 
【關鍵詞】  義齒,全口；腭皺；言語聲學；語音質量
語音功能也是口腔生理功能之一，口腔中的修復體的范圍、厚度、形態(tài)直接影響病人的語音功能［1］。語音是評價牙列缺失病人全口義齒修復后成功與否的標準之一。全口義齒在恢復病人的咀嚼功能的同時，也必須盡快恢復病人的語音功能。早期對全口義齒修復后語音的研究多采用主觀評價方法，缺乏客觀定量的分析。本實驗采用Minispeech lab桌上語音工作室分析全口義齒修復后輔音的聲學特征，旨在探討腭皺在全口義齒修復后語音恢復過程中的作用，從而為臨床制作義齒提供理論依據(jù)。
　　1  資料與方法
　　1.1  對象及分組
    
　　選擇我院口腔修復科擬行全口義齒修復的病人40例，男女各20例，年齡為45～75歲。入選標準：病人無全口義齒修復史，有一定文化程度，能講普通話且無明顯方言，無聽力障礙（≤20 dB）,未接受過語音治療訓練。按照義齒的形態(tài)將實驗對象分為無腭皺組和腭皺組，每組男女各10例，平均年齡分別為61.25、60.37歲。
　　1.2  實驗設備
    
　　錄音室（符合國際聲學會標準），Minispeech lab桌上語音工作室（南開大學研制）。
　　1.3  實驗方法
    
　　全口義齒的金屬部分采用鈷鉻合金，基托范圍、基托形態(tài)、牙齒的位置和角度、垂直距離均按常規(guī)制作。無腭皺組義齒腭前區(qū)平滑，腭皺組義齒腭前區(qū)形態(tài)與病人本人腭皺形態(tài)相同，厚度均為0.5 mm。
    
　　在錄音室內(nèi)，讓病人平坐，距話筒5 cm，語速適中，語調穩(wěn)定，音量適中，由病人朗讀一段文章（其中包含“幾個、去掉、小偷”三個常用詞語），直接將其用Minispeech lab 錄入軟件中保存，設置采樣頻率為11 025 Hz,增益為2。三個常用詞語包含被檢音/j/、/q/、/x/。在義齒初戴前、初戴時及初戴后1周、2周、4周、8周各測試一次，分析被檢音的第二共振峰(F2)值和帶寬（B2）值。
　　1.4  統(tǒng)計分析
    
　　實驗數(shù)據(jù)用±s表示，采用SPSS 11.0和PPMS 1.51[2]統(tǒng)計軟件對數(shù)據(jù)進行方差分析。
　　2  結果    
　　無腭皺組從初戴后2周開始，/j/、/q/、/x/的F2值與之前相比明顯升高（F=4.32～6.29，q=2.95～4.48,P<0.05），/q/、/x/的B2值與之前相比明顯降低（F=5.64、5.58，q=3.90～4.68，P<0.05），從初戴后4周開始，/j/的B2值與之前相比明顯降低（F=5.28，q=3.18～4.95，P<0.05）。腭皺組從初戴后1周開始，/j/、/q/、/x/的F2值與之前相比明顯升高（F=5.03～5.82，q=2.97～3.80，P<0.05），其B2值與之前各組相比明顯降低（F=4.43～4.99，q=3.31～4.03，P<0.05）。見表1、2。 
    
　　表1  無腭皺組初戴前、后不同時期/j/、/q/、/x/的F2值和B2值（略）
　　表2  腭皺組初戴前、后不同時期/j/、/q/、/x/的F2值和B2值（略）
　　3  討論
    
　　Minispeech lab是一種計算機語音分析系統(tǒng)，它在語圖儀的基礎上，結合了計算機技術，具有語音信號的獲取、分析、編輯、回放等功能，可以精確地測量共振峰的參數(shù)，是目前語音研究中使用的最先進的設備之一。
    
　　全口義齒修復后，病人的語音功能恢復程度各不相同［3］。影響語音恢復的因素很多，本文著重研究腭皺因素。就輔音而言，按照發(fā)音方法的阻礙方式，/j/為不送氣清塞擦音，/q/為送氣清塞擦音，/x/為送氣清擦音。按照發(fā)音部位分類，/j/、/q/、/x/為舌面前音［4，5］。正常人發(fā)輔音時（鼻音除外），軟腭上升，腭咽閉合阻塞鼻腔通道，舌的不同部位在口腔中形成不同的阻礙，氣流沖破阻礙，迸裂而出，爆發(fā)成聲［6］。在發(fā)/j/、/q/、/x/這幾個音時，舌面與義齒接觸，而接觸位置的前后及接觸面積的大小直接對語音構成影響，目前被認為是口腔全口義齒修復后最易伴發(fā)的異常語音［7］。本文選取上述幾個敏感音作為測試指標，對于全口義齒修復后語音異常的測定具有代表性意義。共振峰本義是指聲腔的共鳴頻率，因此廣義而論，它既適用于元音，也適用于輔音［8］。其中，前3個共振峰F1、F2、F3最具代表性，F(xiàn)1與開口度呈正比；F2與舌位前后密切相關，舌越靠后，頻率越低，F(xiàn)2也與圓唇有關，唇越圓，F(xiàn)2越低；F3與卷舌動作有關［9］。與全口義齒修復后的語音最為相關的是F2。本文選取F2作為測量指標。
    
　　帶寬又稱半功率帶寬，以共振峰顛值以下3 dB處的寬度來定義。帶寬與振幅呈反比，帶寬越大，相應的振幅越小，則共振峰的能量也就越小。本文選取第二共振峰B2作為測量指標。
    
　　舌在形成語音的過程中起著相當重要的作用。舌的動作會影響喉腔的動作，會影響喉腔和咽腔的形狀，當改變舌的位置時，喉腔和咽腔的形狀有時也隨著發(fā)生變化，影響到聲帶的共振［1］。由于絕大多數(shù)病人舌的代償和適應能力強，且下頜基托對口腔容積的改變影響較小，而發(fā)音時舌與上頜接觸的頻率較高，上頜基托成為影響發(fā)音的主要結構［12］。
    
　　本文實驗結果顯示，無腭皺組病人需要2周甚至更長的時間其語音才能得到改善，而腭皺組病人在初戴1周后已經(jīng)恢復上述敏感音的語音功能，這可能是因為后者復制了病人原有的腭皺形態(tài)，有利于發(fā)音時舌的準確定位，從而使病人較早地恢復了語音功能；而前者沒有腭皺，初戴義齒后，舌失去定位的標志，但經(jīng)過較長的時間（2周）后，病人慢慢適應了義齒，并通過聽覺反饋機制，逐漸找回發(fā)音時舌的相對位置，語音功能得到改善。
    
　　總之，本實驗證明，腭皺有利于金屬基托全口義齒修復后病人語音恢復，應盡量制作帶有病人自身腭皺形態(tài)的金屬基托全口義齒作為修復體。
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