自由空間損耗周期結(jié)構(gòu)貼片/孔徑電磁散射分析

全部作者： 孟林 第1作者單位： 成都電子科技大學(xué) 電子薄膜與集成器件國家重點實驗室 論文摘要： 本文采用頻域矩量法對自由空間損耗周期結(jié)構(gòu)貼片或孔徑的電磁散射進(jìn)行分析。計算任意平面波入射下周期結(jié)構(gòu)貼片/孔徑元胞的表面等效感應(yīng)電流分布和反射系數(shù)，把數(shù)值結(jié)果與相關(guān)文獻(xiàn)對比并對其進(jìn)行討論。 關(guān)鍵詞： 損耗周期結(jié)構(gòu)，電磁散射，頻域矩量法，表面等效感應(yīng)電流，反射系數(shù) (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2007年05月17日 同行評議：

寫作認(rèn)真、思路清楚、數(shù)據(jù)結(jié)果可靠，有1定的參考價值，但主要是沿用傳統(tǒng)的方法來進(jìn)行分析計算，無太多創(chuàng)新。　

綜合評價： 修改稿： (第1版)(2007-06-26) 注：同行評議是由特聘的同行專家給出的評審意見，綜合評價是綜合專家對論文各要素的評議得出的數(shù)值，以1至5顆星顯示。

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